(1) Die Prüfbehörde wählt aus der gemäß den Artikeln 3 und 4 festgelegten Grundgesamtheit eine statistische Zufallsstichprobe nach einer der folgenden Methoden aus:
a) dem MUS-Standardansatz;
b) dem einfachen Zufallsstichprobenverfahren.
(2) Wenn die Prüfbehörde den MUS-Standardansatz verwendet, wählt sie eine Stichprobe anhand der PPS-Methode aus.
Die niedrigwertigen Einheiten werden auf der Grundlage eines Auswahlintervalls ausgewählt, das anhand der Ausgaben einer niedrigwertigen Schicht nach Ermittlung einer umfassenden hochwertigen Schicht berechnet wird. Alle hochwertigen Einheiten, die über dem Auswahlintervall liegen, werden geprüft, vorbehaltlich der in Artikel 3 Absatz 6 Unterabsatz 1 Buchstaben a und b und Unterabsatz 3 vorgesehenen Ausnahmen.
(3) Wenn die Prüfbehörde das einfache Zufallsstichprobenverfahren anwendet, zieht sie eine Stichprobe durch Auswahl mit gleicher Wahrscheinlichkeit, wobei sie fakultativ eine umfassende Schicht verwenden kann.
(4) In den Anhängen I und II sind Stichprobenparameter und -formeln zur Berechnung des Stichprobenumfangs für die in Absatz 1 Buchstaben a und b genannten Methoden festgelegt, außer in Fällen, in denen der in Absatz 7 genannte begrenzte Stichprobenumfang angewandt wird. Diese Formeln können mit unterschiedlichen Stichprobenplänen verwendet werden, die ein geschichtetes Stichprobenverfahren, ein Stichprobenverfahren für mehrere Zeiträume oder eine Kombination aus beiden umfassen.
(5) Die Stichprobe muss mindestens 30 Einheiten und in jeder Zufallsschicht eines Stichprobenzeitraums mindestens drei Einheiten enthalten.
(6) Im Falle eines Stichprobenverfahrens für mehrere Zeiträume wendet die Prüfbehörde einen der folgenden Ansätze zur Neuberechnung des Stichprobenumfangs an, um den aktualisierten Stichprobenparametern Rechnung zu tragen:
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